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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
本頁(yè)是為您展示的法國(guó)JY輝光放電光譜儀GD-Profiler產(chǎn)品信息，含有輝光放電光譜儀GD-Profiler參考圖片、主要特點(diǎn)、主要功能等。輝光放電光譜儀GD-Profiler是快元素深度分布分析工具。對(duì)于解決分析問(wèn)題，即使是復(fù)雜的基體，提供高分別率和元素?cái)?shù)量。它可以讓你快速得到深度方向關(guān)于C，N，O和其他元素的信息，從而讓你可以更好的控制熱處理工藝的過(guò)程。
詳情介紹：
輝光放電光譜儀GD-Profiler產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
法國(guó)Jobin Yvon GD-Profiler型輝光放電光譜儀是快元素深度分布分析工具。對(duì)于解決分析問(wèn)題，即使是復(fù)雜的基體，提供高分別率和元素?cái)?shù)量。60種元素（包括氣體元素）可以同時(shí)分析。他集合了JY公司30多年在GDS上的經(jīng)驗(yàn)。 它可以讓你快速得到深度方向關(guān)于C，N，O和其他元素的信息，從而讓你可以更好的控制熱處理工藝的過(guò)程。在冶金工業(yè)中，化學(xué)成份的分析是對(duì)力學(xué)試驗(yàn)的補(bǔ)充。其應(yīng)用尤其適合于汽車(chē)，齒輪，風(fēng)車(chē)等行業(yè)。
輝光放電光譜儀GD-Profiler主要特點(diǎn):
●RF射頻發(fā)生器- 標(biāo)準(zhǔn)配置，可進(jìn)行元素總量分析，分析時(shí)間約為90秒，分析速度比其他表面分析技術(shù)快上100倍；濺射率一般為3μm/min；
●實(shí)現(xiàn)從1nm至深達(dá)150μm的元素深度分布分析；
●射頻輝光放電光譜的靈敏度為10 原子/cm ；
●一次激發(fā)可以同時(shí)分析所有元素（包括H, O, Cl等） ；
●脈沖射頻設(shè)計(jì)的光源為導(dǎo)體、非導(dǎo)體、薄膜、涂層、合金、陶瓷、粉末等類(lèi)型的物質(zhì)提供了廣>的分析應(yīng)用前景；
●多道(同時(shí))型光學(xué)系統(tǒng)可全譜覆蓋，光譜范圍：110nm至800nm，包含遠(yuǎn)紫外；
●低至0.3L/分鐘的氬氣消耗降低了分析成本；
●**的單色儀(選配件)可*大的提高儀器的靈活性，即能實(shí)現(xiàn)n+1通道分析；
●磚利HDD 檢測(cè)器可進(jìn)行>速而高靈敏的檢測(cè)，動(dòng)態(tài)范圍達(dá)到10個(gè)量級(jí)；
●寬大的樣品室方便各類(lèi)樣品的加載；
●激光指點(diǎn)器(CenterLite laser pointer，磚利申請(qǐng)中)可用于精 確加載樣品。
輝光放電光譜儀GD-Profiler主要用途：
導(dǎo)電材料和非導(dǎo)電材料的基體、鍍層（涂層）中的化學(xué)元素含量分析；熱處理工件（滲碳、滲氮）等的元素深度定量分析；導(dǎo)電材料表面覆蓋有一層或多層導(dǎo)電或不導(dǎo)電鍍層（涂層）中化學(xué)元素的分析；非導(dǎo)體材料表面覆蓋有一層或多層導(dǎo)電或不導(dǎo)電鍍層（涂層）中化學(xué)元素的分析等。
法國(guó)Jobin Yvon GD-Profiler型輝光放電光譜儀是快元素深度分布分析工具。對(duì)于解決分析問(wèn)題，即使是復(fù)雜的基體，提供高分別率和元素?cái)?shù)量。60種元素（包括氣體元素）可以同時(shí)分析。他集合了JY公司30多年在GDS上的經(jīng)驗(yàn)。 它可以讓你快速得到深度方向關(guān)于C，N，O和其他元素的信息，從而讓你可以更好的控制熱處理工藝的過(guò)程。在冶金工業(yè)中，化學(xué)成份的分析是對(duì)力學(xué)試驗(yàn)的補(bǔ)充。其應(yīng)用尤其適合于汽車(chē)，齒輪，風(fēng)車(chē)等行業(yè)。
輝光放電光譜儀GD-Profiler主要特點(diǎn):
●RF射頻發(fā)生器- 標(biāo)準(zhǔn)配置，可進(jìn)行元素總量分析，分析時(shí)間約為90秒，分析速度比其他表面分析技術(shù)快上100倍；濺射率一般為3μm/min；
●實(shí)現(xiàn)從1nm至深達(dá)150μm的元素深度分布分析；
●射頻輝光放電光譜的靈敏度為10 原子/cm ；
●一次激發(fā)可以同時(shí)分析所有元素（包括H, O, Cl等） ；
●脈沖射頻設(shè)計(jì)的光源為導(dǎo)體、非導(dǎo)體、薄膜、涂層、合金、陶瓷、粉末等類(lèi)型的物質(zhì)提供了廣>的分析應(yīng)用前景；
●多道(同時(shí))型光學(xué)系統(tǒng)可全譜覆蓋，光譜范圍：110nm至800nm，包含遠(yuǎn)紫外；
●低至0.3L/分鐘的氬氣消耗降低了分析成本；
●**的單色儀(選配件)可*大的提高儀器的靈活性，即能實(shí)現(xiàn)n+1通道分析；
●磚利HDD 檢測(cè)器可進(jìn)行>速而高靈敏的檢測(cè)，動(dòng)態(tài)范圍達(dá)到10個(gè)量級(jí)；
●寬大的樣品室方便各類(lèi)樣品的加載；
●激光指點(diǎn)器(CenterLite laser pointer，磚利申請(qǐng)中)可用于精 確加載樣品。
輝光放電光譜儀GD-Profiler主要用途：
導(dǎo)電材料和非導(dǎo)電材料的基體、鍍層（涂層）中的化學(xué)元素含量分析；熱處理工件（滲碳、滲氮）等的元素深度定量分析；導(dǎo)電材料表面覆蓋有一層或多層導(dǎo)電或不導(dǎo)電鍍層（涂層）中化學(xué)元素的分析；非導(dǎo)體材料表面覆蓋有一層或多層導(dǎo)電或不導(dǎo)電鍍層（涂層）中化學(xué)元素的分析等。
